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應用案例
CASE
顯微鏡是觀察微觀形貌常用的儀器之一，為了使我們觀察到的圖像始終是清晰和真實的，平時使用顯微鏡時也要進行適當?shù)木S護和保養(yǎng)。維護是日常的，保養(yǎng)是按需的，那么在什么樣的情況下需要對它進行怎樣的維護和保養(yǎng)呢？
偏光顯微鏡通常應用于材料科學和地質(zhì)學領(lǐng)域，根據(jù)礦物的折射特性和顏色來識別礦物。在生物學中，偏光顯微鏡通常用于晶體等雙折射結(jié)構(gòu)的識別或成像，或用于植物細胞壁中纖維素和淀粉粒的成像。
顯微課堂 | 工業(yè)顯微鏡在面板檢測行業(yè)的應用案例分享
對于目前主流顯示面板市場而言，常見的顯示技術(shù)包括LCD（液晶顯示）、有機發(fā)光二極管顯示（OLED）、電泳顯示、以及新興的Micro LED（微型發(fā)光二極管）顯示技術(shù)等；各種顯示技術(shù)均具有獨特的特點及應用領(lǐng)域。
本文介紹了一種配備自動化和可重復的 DIC（微分干涉對比）成像的 6 英寸晶圓檢測顯微鏡，無論用戶的技能水平如何。制造集成電路（IC）芯片和半導體組件需要進行晶圓檢測，以驗證是否存在影響性能的缺陷。這種檢測通常使用光學顯微鏡進行質(zhì)量控制、故障分析和研發(fā)。為了有效地可視化晶圓上結(jié)構(gòu)之間的細微高度差異，可以使用 DIC 。
生產(chǎn)過程中顆粒的污染給電池制造商帶來了諸多挑戰(zhàn)。不同大小和組成的顆粒會沉積在電池內(nèi)部，導致短路、過熱、性能下降和電池壽命縮短。在電池生產(chǎn)過程中，快速準確地識別可能造成損害的顆粒對于實現(xiàn)快速可靠的質(zhì)量控制至關(guān)重要。利用光學顯微鏡的清潔度分析解決方案可用于高效且具有成本效益的電池顆粒檢測和分析。為了更好地了解顆?？赡茉斐蓳p害的潛力，結(jié)合光學顯微鏡與LIBS的“二合一”解決方案，對顆粒進行同時的視覺和化學評估，將是一個優(yōu)勢。
關(guān)于數(shù)碼顯微鏡，您一直想知道但從未問過的問題
數(shù)碼顯微鏡要求光學顯微鏡配備數(shù)碼相機，但不需要目鏡。樣品的圖像可直接在電腦顯示屏上觀察和分析。數(shù)碼顯微鏡也可以是傳統(tǒng)的體視顯微鏡或復合顯微鏡，它們有目鏡，但也配備了攝像頭，并保存有關(guān)顯微鏡狀態(tài)和攝像頭設(shè)置點的反饋信息。在本文的其余部分，我們將使用 "數(shù)碼顯微鏡 "一詞來指代不帶目鏡的顯微鏡，例如 Leica DVM6和Emspira 3，但不包括配備攝像頭的體視顯微鏡或復合顯微鏡。
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